磁光克尔综合测试平台

名称：磁光克尔综合测试平台

型号：Kerr Microscope

设备平台：气动悬浮光学平台

光学主体：卡尔蔡司显微镜主体，目镜+相机观测可切换，高精度自动检偏模组，高精度电动聚焦模块，超长焦物镜。

系统光源：高功率智能光源模块，入射角、波长、亮度、频率分区可控，多色彩光源

可选：光源位置、聚焦可调。

磁场：垂直磁场(最高 1.2 T) 面内磁场(最高 0.8 T)

电学仪表：Keithley 6221, Keithley 2400, Tetronics 微波源

探针：DC，高频探针

应用示例

铁磁性/亚铁磁性薄膜

电流驱动的磁性翻转

二维材料的自旋特性研究

其他

光学元件的表面质量：如镜面反射率、表面粗糙度、表面形状等。

光学元件的光学性能：如透过率、散射率、偏振性等。

光学系统的对准精度：如望远镜、激光器、光学纤维等系统的光轴对准精度、相对位置精度等。

光学系统的动态响应：如光学系统的调焦速度、扫描速度、稳定性等。

光学系统的热稳定性：如光学元件、光学系统在不同温度环境下的性能变化。