今日(6月11日)发表于《自然》的研究成果,代表着实现更薄、更快、更高能效电子器件的重大飞跃。研究人员在不依赖硅材料的情况下,创建了互补金属氧化物半导体(CMOS)计算机——该技术是现代几乎所有电子设备的核心。他们采用两种不同的二维材料分别开发了控制CMOS计算机电流所需的两种晶体管:二硫化钼用于n型晶体管,二硒化钨用于p型晶体管。
“硅通过实现场效应晶体管(FET)的持续微型化,数十年来驱动了电子领域的显著进步,”研究负责人、宾夕法尼亚州立大学Ackley工程讲席教授、工程科学与力学系教授Saptarshi Das表示,“然而随着硅器件尺寸缩小,其性能开始退化。相比之下,二维材料在原子级厚度下仍能保持优异的电子特性,提供了前景广阔的发展路径。”
Das解释道,CMOS技术需要n型和p型半导体协同工作,以实现高性能和低功耗——这是阻碍硅材料替代方案的关键挑战。尽管先前研究已展示基于二维材料的小型电路,但扩展到复杂功能性计算机仍难以实现。
“这是我们工作的核心突破,”Das强调,“我们首次展示了完全由二维材料构建的CMOS计算机,结合了大面积生长的二硫化钼和二硒化钨晶体管。”
团队采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)工艺——该工艺通过汽化原料、引发化学反应并将产物沉积在基底上——生长出大面积二硫化钼和二硒化钨薄层,并制备了逾1,000个每种类型的晶体管。通过精细调控器件制备和后处理步骤,他们成功调整了n型和p型晶体管的阈值电压,构建出全功能的CMOS逻辑电路。
“我们的2D CMOS计算机在低电源电压下运行,功耗极微,能以高达25千赫兹的频率执行基础逻辑运算,”第一作者、Das指导的工程科学与力学博士生Subir Ghosh表示。
Ghosh指出,其运行频率低于传统硅基CMOS电路,但这台单指令集计算机仍可执行简单逻辑运算。
“我们还建立了基于实验数据校准的计算模型,纳入器件间差异因素,用于预测2D CMOS计算机性能并与先进硅技术进行基准测试,”Ghosh补充道,“尽管仍需进一步优化,但这项工作在利用二维材料推动电子学发展方面树立了重要里程碑。”
Das赞同此观点,指出需进一步开发2D CMOS计算机方案以实现广泛应用,同时强调该领域发展速度相较硅技术更为迅猛。
“硅技术发展历时约80年,而二维材料研究相对较新,真正兴起于2010年左右,”Das解释,“我们预期2D材料计算机的发展也将是渐进过程,但这相比硅技术的演进轨迹已是巨大飞跃。”
Ghosh和Das将成果归功于宾夕法尼亚州立大学二维晶体联盟材料创新平台(2DCC-MIP)提供的基础设施支持。Das同时隶属于宾夕法尼亚州立大学材料研究所、2DCC-MIP以及电气工程系和材料科学与工程系。其他贡献者包括宾夕法尼亚州立大学工程科学与力学系研究生Yikai Zheng, Najam U. Sakib, Harikrishnan Ravichandran, Yongwen Sun, Andrew L. Pannone, Muhtasim Ul Karim Sadaf, Samriddha Ray;以及助理教授Yang Yang。Yang同时隶属于材料研究所和宾夕法尼亚州立大学Ken and Mary Alice Lindquist核工程系。2DCC-MIP主任、材料科学与工程系及电气工程系杰出教授Joan Redwing与助理研究教授Chen Chen亦为论文合著者。其他贡献者包括印度理工学院Musaib Rafiq, Subham Sahay;以及贾达普大学Mrinmoy Goswami。
美国国家科学基金会、陆军研究办公室和海军研究办公室部分支持了这项工作。
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Materials provided by Penn State. Note: Content may be edited for style and length.
Journal Reference:
2025-06-18
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