先进的显微镜方法揭示了纳米级光学超材料的隐藏世界

马克斯·普朗克学会弗里茨·哈伯研究所物理化学系的科学家在纳米技术领域取得了重大发现，详见他们在《先进材料》杂志上的最新出版物。他们的论文题为“SiC超表面中强耦合声子极性的光谱和干涉和频成像”，介绍了一种新的显微镜方法，可以前所未有地可视化纳米结构及其光学特性

超材料是在纳米尺度上设计的，具有天然材料所没有的独特性质。这些特性源于它们的纳米级构建块，到目前为止，由于它们的尺寸小于光的波长，直接观察它们一直具有挑战性。该团队的研究通过采用一种新的显微镜技术克服了这一局限性，该技术可以同时揭示这些材料的纳米和宏观结构

这项研究的关键发现是一种方法上的突破，它使以前太小而无法用传统显微镜看到的结构可视化成为可能。通过以创新的方式使用光，科学家们发现了如何在结构内“捕获”一种颜色的光，并使用与第二种颜色的混合来观察这种捕获的光。这个技巧揭示了纳米级光学超材料的隐藏世界

这一成就是Fritz Haber研究所利用自由电子激光器（FEL）的独特功能进行五年多专门研究和开发的结果。这种显微镜特别特别，因为它可以更深入地了解超表面，为透镜设计等技术的进步铺平道路，最终目标是创造更平坦、更高效的光学设备

通过加深对超表面的理解，这项研究为开发新型光源和相干热光源的设计打开了大门

“我们才刚刚开始，”研究团队表示，“但我们的工作对平面光学及其他领域的影响是巨大的。我们的技术不仅使我们能够看到这些纳米结构的完整性能，还可以对其进行改进，将3D光学缩小到2D，使一切变得更小更平坦。”